国家高性能计算机工程技术研究中心_工程技术研究中心打算_国家级工程技术中心(40)

根据摄像机的编号对全屏画面按顺序切换显示，敏路画面的显示时间可由连接图用户自己进行优化编程调整；4.高解像度以及实时更新率。画面指标为512×512象素，更新率为25-30场/秒；5.录像带重放时可实现1/4(或1/9.1/16)画面到全屏画面变焦(还原为实时全屏画面)；7.与标准的SUPER-VHS录像机兼容(有的还具有S-VHS接口??） 采用图像压缩和数字化处理的方法，把几个画面按同样的比例压缩在一个监视器的屏幕上 153 日立投影机 HCP-8000x 2009 国内 4.61 产品类型：教育投影机显示技术：LCD技术类型：3×0.63英寸多晶硅有源矩阵投影方式：正投，背投，吊顶投影距离：0.9-9m支持的色：1677万最高显示：1600×1200 教育投影机 日立投影机 HCP-8000x 2009 国内 4.61 产品类型：教育投影机显示技术：LCD技术类型：3×0.63英寸多晶硅有源矩阵投影方式：正投，背投，吊顶投影距离：0.9-9m支持的色：1677万最高显示：1600×1201 教育投影机 日立投影机 HCP-8000x 2009 国内 4.61 产品类型：教育投影机显示技术：LCD技术类型：3×0.63英寸多晶硅有源矩阵投影方式：正投，背投，吊顶投影距离：0.9-9m支持的色：1677万最高显示：1600×1202 教育投影机 154 UPS电源 兆源NP65-12 2009 国内 2.74 电压为12V，容量为65AH的免维护蓄电池 不间断电源 155 联想商用台式计算机6组 Thinkcentre M8000t 2009 国内 5.46 CPU类型：Intel 酷睿2四核；CPU频率： 2660MHz，显示器：19寸液晶显示器，内存： DDR3.4096MB 办公 156 联想计算机15组 昭阳K43G 2009 国内 14.25 处理器：Intel Core2 Duo(Penryn) P8400(2.26GHz)；主板芯片组：Intel GM45+ICH9M；内存容量：1GB；硬盘容量：160GB；屏幕尺寸：14.1英寸；显卡类型：集成Intel GMA X4500显卡 办公 157 IBM服务器 X3850M2 2009 国内 9.14 Intel Xeon Processor 7320 (2.13GHz/4MB L2 Quad Core)，1066MHz FSB，4-SMP，4*1GB， HS 0GB SAS，2*Memory Card，Light Path， Combo，2*Giga Ethernet，4U，RSAII， 2*1440w 办公 158 打印机 HP 1008 2009 国内 0.16 黑白激光打印机，打印速度：16页/分，分辨率：600*600dpi 办公 打印机 HP 1008 2009 国内 0.16 黑白激光打印机，打印速度：16页/分，分辨率：600*600dpi 办公 北京市科学技术研究院研发实验服务基地开放重点实验室、工程中心：1个，开放的仪器设备：88台（套），开放的科技资源：7919.24万元。

编号 名称 厂商及型号 购置 时间 国别 原值（万元） 性能参数 主要功能和用途 1 高低温试验箱 广州爱斯佩克环境仪器VT1070W/GSL-02KA 2005 国内 97.90 温度范围：-70℃～160℃ 电子产品检测 2 重力式分选机 上海中艺自动化系统SOP系列 2008 国内 10.00 测试工位：2个 产量：5.5-6.3千粒/小时（含80ms测试时间） IC检测 3 集成电路高温动态老化系统 杭州可靠性仪器厂 ELEA-HJA 2006 国内 46.00 电压：2V～±18V，最大电流：10A 电子产品检测 4 综合老化系统 杭州可靠性仪器厂 ELEC-HJ 2006 国内 18.00 VB电源：0～15V连续可调，最大电流：40A；VC电源：0～60V连续可调，最大电流：12A 电子产品检测 5 高低温冲击试验箱 广州爱斯佩克环境仪器 TSG3055W 2006 国内 50.90 低温温度范围：-55℃～0℃高温温度范围：60℃～200℃ 电子产品检测 6 高温试验箱 广州爱斯佩克环境仪器PHH401 2006 国内 7.80 温度范围：20℃～300℃ 电子产品检测 7 三综合环境试验箱 广州爱斯佩克环境仪器 GA-10W 2006 国内 103.20 温度范围：-65℃～150℃ 加随机振动、扫频振动、经典冲击综合试验 电子产品检测 8 分选机 江阴金仕达科技 KS.H-668 2007 国内 166.00 测试工位：1-3个产量：7000只/小时（含80ms测试时间） IC检测 9 烘箱（OVEN BAKE） 吴江亚泰烘箱制造厂 2008 国内 13.80 温度范围：室温～250℃控温均匀度：±2℃ IC检测 10 电磁振动试验台 苏州试验仪器厂 D-300-3/RC-2000 2006 国内 20.00 额定正统推力：2940N 额定频率范围：5～4000Hz 电子产品检测 11 冲击碰撞试验台 苏州试验仪器厂 P100/CL-02 2006 国内 15.00 峰值加速度：30～1500g 电子产品检测 12 分析探针测试台 广州竞赢化工科技 ST-102A 2005 国内 38.00 显微镜显像对准，放大倍数：50-100倍；分辨率：2μ 晶圆测试 13 机械手 爱德万苏州测试 M4642A 2008 国内 22.00 温度范围：-30℃～125℃ 产能：2800器件以上/小时 IC检测 14 盐雾试验箱 上海林频仪器设备 YWX/Q-750 2006 国内 5.62 温度范围：35℃～50℃ 喷雾特点：连续、周期任选 电子产品检测 15 逻辑 安捷伦公司 16803A 2006 美国 18.97 采集存储器深度：32M 状态时钟速率：450MHz；数据速率：500Mb/s 实验、分析 16 工作站 SUN公司 A-60 2006 美国 25.34 配备四核心处理器 支援NVIDIA高階阶图形卡 实验、分析 17 高温试验箱 广州爱斯佩克环境仪器PHH101 2008 国内 3.00 温度范围：-70℃～150℃ IC检测 18 超低温试验箱 广州爱斯佩克环境仪器MC-711 2008 国内 10.00 温度范围：20℃～300℃ IC检测 19 液槽式高低温冲击试验箱 爱斯佩克公司 TSB-51 2008 日本 80.00 低温温度范围：-65℃～0℃ 高温温度范围：70℃～200℃ IC检测 20 PIND粒子噪声检测仪 杭州可靠性仪器厂 4511L 2008 国内 31.00 振动频率范围：25～250Hz正弦波冲击范围：100～2500g IC检测 21 离心机 西安捷盛电子技术有限责任公司Y5340/ZF 2008 国内 22.00 加速度：5000～440000g 实验、分析 22 拉力剪切力测试仪 DAGE公司 4000 2008 英国 52.00 最大键合拉力：100g，剪切力：5Kg IC检测 23 氦质谱检漏仪 北京中科科仪技术发展 ZQJ-230E 2008 国内 11.00 反映时间：﹤3S；启动时间：﹤5min IC检测 24 氦气氟油加压检漏仪 北京中科科仪技术发展HF-4 2008 国内 7.00 真空度：≦50Pa；充氦压力：0.2～1.0MPa IC检测 25 8寸分析探针台 Electroglas公司 EG4090 2008 美国 80.00 可测片径4″～8″；精度：±4um 晶圆测试 26 混合信号示波器 泰克公司 MSO4034 2008 美国 10.00 带宽：350MHz，采样率：2.5GS/s最形捕获率：35000wfm/s 数字系统服务 27 SOC信号源 泰克公司 AWG5014B 2008 美国 51.50 垂直分辩率：14位；采样速率：1.2Gs/s SOC服务中调试 28 500M混合信号示波器 泰克公司 MSO4054 2008 美国 14.00 带宽：500MHz，采样率：2.5GS/s；最形捕获率：35000wfm/s IC调试与检测 29 80M任意波形函数信号发生器 安捷伦公司 33250A 2008 美国 6.00 幅度分辨率：12bit；采样率：200MSas IC调试 30 精密LCR电桥 QuadTech公司 7600 2008 美国 13.90 测试频率：10Hz～2MHz连续可调；精度：±（0.25%+0.02Hz） 测试设备检测 31 电子安全 QUADTECH公司 GUARDIAN6000 2008 美国 9.90 交流测试电压：50V～5000V 直流测试电压：50V～5000V 分析与检测 32 料管式分选机 江阴金仕达科技 KS.H-218 2008 国内 12.50 测试工位：1个；手工换管数：9个产量：6千粒/小时（含80ms测试时间） 测试服务 33 1750VA交流程控电源 安捷伦公司 6813B 2008 美国 12.30 电源：1750VA；电压：300V；电流：13A 电源管理 34 1800W程控负载 安捷伦公司 3300A/3304 2008 美国 14.50 运行范围：100-250Vac；48-63Hz 温度范围：0℃～55℃ 分立器件服务 35 重力式分选机 上海中艺自动化系统 TSSOP 2008 国内 9.70 测试工位：1个；产量：5.5-6.3千粒/小时（含80ms测试时间） IC检测 36 打点器 上海芷宇半导体设备 XANDEX 2006 国内 5.90 打点大小：10.0Mil 位移测试 37 MSO 测试板 安捷伦公司 DSO6000 2008 美国 100.00 100MHz 提供测试资源 38 数据通道板 泰瑞达公司 J750 2008 美国 110.00 PIN512 提供测试资源 39 升降装置(测试设备支架） 泰瑞达公司 2007 美国 39.20 可与探针台相接 设备调节 40 集成电路测试设备升降装置 泰瑞达公司 2006 美国 8.10 可与探针台相接 设备调节 41 测试机和机械手夹具 泰瑞达公司 2006 美国 19.12 最大：256管脚 测试转换工具 42 数据通道板 泰瑞达公司 J750 2008 国内 59.58 PIN256 提供测试资源 43 探针台 深圳市展芯科技 BD系列 2005 国内 130.24 可测片径：4″～12″ 晶圆测试 44 探针台 深圳市展芯科技 EB-8 2005 国内 71.78 8″载物台；精度：±4um 晶圆测试 45 探针台 东京精密 UF200 2005 日本 83.77 可测片径5″～8″；精度：±4um 晶圆测试 46 探针台 东京精密 UF190 2005 日本 77.60 可测片径4″～8″；精度：±4um 晶圆测试 47 探针台 东京毅力科创株式会社 P-8XL 2006 日本 71.86 可测片径4″～8″；精度：±4um 晶圆测试 48 探针台 Electroglas公司EG4080 2006 美国 78.03 可测片径4″～8″；精度：±5um 晶圆测试 49 探针台 深圳市展芯科技BD-8 2007 国内 130.24 8″载物台；精度：1um 晶圆测试 50 探针台 北京自动测试技术研究所XR2308 2006 国内 60.00 可测片径3″～8″X-Y定位精度≤±0.013mm 晶圆测试 51 探针台 Electroglas公司EG2001X 2006 美国 70.00 可测片径3″～6″；精度：±6um 晶圆测试 52 探针台 Electroglas公司EG1034 2006 美国 52.00 可测片径3″～6″；精度：﹤6.35um 晶圆测试 53 数字集成电路测试系统 北京自动测试技术研究所BC3168 2006 国内 54.00 测试速率：20MHZ；测试管脚：128pins IC检测 54 集成电路测试系统 北京自动测试技术研究所BC3196H 2008 国内 79.00 测试速率：20MHZ；测试管脚：128pins IC检测 55 半导体分立器件测试系统 北京自动测试技术研究所BC3193 2005 国内 35.00 40V/30A电压/电流源；+2000V高压源 IC检测 56 模拟集成电路测试系统 北京自动测试技术研究所BC3196 2004 国内 41.49 测试管脚：128pins 程控功率电源：电压可达到±30V IC检测 57 芯片测试系统 北京自动测试技术研究所BC3162 2005 国内 19.07 测试速率：10MHz；测试管脚：128pins IC检测 58 集成电路测试系统 泰瑞达公司 J750 2005 美国 128.28 测试速率：50MHz；测试管脚：256pins IC检测 59 集成电路测试系统 泰瑞达公司 J750 2006 美国 124.82 测试速率：50MHz；测试管脚：256pins IC检测 60 集成电路测试系统 泰瑞达公司 J750 2008 美国 130.01 测试速率：50MHz；测试管脚：256pins IC检测 61 HDTV测试系统 HILEVEL 公司 ETS760 2004 美国 165.87 测试速率：35MHz；测试管脚：128pins IC检测 62 测试系统 北京自动测试技术研究所 BC3192V 2007 国内 180.00 测试速率：50MHZ(100MHz)测试管脚：256pins IC检测 63 集成电路测试系统 科力登公司 Sapphire D-10 2007 美国 284.31 测试速率：200MHz；200mbps数字仪器具有个别脚位的时序、格式化、等级、PMU与12V超电压 IC检测 64 集成电路测试系统 科力登公司 QUATET One 2006 美国 284.31 测试速率：100MHz；±175p秒EPA的精准度，数字信号从100MHz到333mbps IC检测 65 集成电路测试系统 泰瑞达公司 J750K 2007 美国 224.00 测试速率：100MHz；测试管脚：512pins； IC检测 66 集成电路测试系统 HILEVEL公司 S2000 2004 美国 247.37 测试速率：100MHz；测试管脚：1024pins IC检测 67 集成电路测试系统 爱德万公司 T6565 2006 日本 380.35 测试速率：125MHz；测试管脚：256pins； IC检测 68 集成电路测试系统 泰瑞达公司 J750E 2006 美国 480.00 测试速率：200MHz；测试管脚：512pins； IC检测 69 集成电路测试系统 爱德万公司 T6577 2006 日本 500.00 测试速率：250MHz；测试管脚：512pins； IC检测 70 厌氧恒温实验箱 ESPEC公司JPHH-201 2006 国内 20.4 ①智能控制加温系统；②最高加温可到300℃ 老化试验 71 SOC系列测试系统 安捷伦公司 HP93000 2006 美国 800.00 数字测试能力：速度从200Mbit/s～3.2Gbit/s测试管脚：1024pins模拟测试能力：任意波形发生器为4.1Gsps，8bit～1Msps，18bit；射频测试能力：最大发射/接收带宽为8GHz IC检测 72 分选机 EPSON公司6040 2007 日本 166.00 ①实现自动化成品测试；②高流量：最大4300UPH；③短分度时间：0.39秒； 成测量产 73 分选机 EPSON公司8020 2007 日本 120.00 ①实现自动化成品测试；②高温测试(120℃)；③智能操作界面 成测量产 74 管脚测试仪 ICOS-CI-9450 2007 法国 151.59 ①利用光源检测管脚；②检测印字是否清晰；③UPH≥6500 后道检测 75 测试编带一体机 JH-KONG JH24B 2008 127.85 ①转盘式测试方式；②测试L/S卷包一体 后道包装测试一体 76 全自动编带机 VISDYNAMICS T6 2008 81.66 ①光源检测印字；②卷带封装 后道包装 77 器件供电电源 Teradyne公司J750 2008 美国 14.65 ①人性化表格程序编辑平台；②512数字通道 测试辅助 78 器件供电电源 Teradyne公司J750 2008 美国 11.56 ①人性化表格程序编辑平台；②512数字通道 测试辅助 79 1KW程控电压/电流源 KEPCO公司JQE100-10M 2008 美国 16 ①电压输出控制：本机由10圈精密变阻器控制；远距离模拟控制1000W/V；远距离数字控制用SN/SNR接口；②源精度：电压＜0.0005%；电流＜0.005% 电源管理 80 300W程控负载 Agilent公司3304 2008 美国 12 ①负载电流0-60A；②负载电压0-60V；③负载功率应在，400C温度下，功率达到1800W 分立器件服务 81 2KV程控高压电源 KEPCO公司BHK2000-0.1MG 2008 美国 6.4 ①输出电压转换速率：＞0.015% of Eo max /微秒；②高压、线性、电压/电流自动转换输出 电源管理 82 电路板故障/功能 测试系统 Diagnosys公司PinPoint II/S500C 2009 英国 580.00 ①功能测试数字通道速率达100MHz；②直流测量精度达71/2；③波形捕获带宽1GHz；④132x8矩阵，信号扩展能力强大；⑤支持240管脚芯片故障诊断；⑥管脚驱动能力达750mA；⑦故障诊断图形速率15MHz IC板级故障/ 功能测试 83 任意波形发生器 Tektronix公司AFG3252 2009 美国 8.10 ①噪声带宽(-3dB)：240MHz；②存储器：采样率>16K-128K：250MS/s2-16K：2GS/s；③垂直分辨率：14位 IC测试 84 逻辑 Agilent公司16803A 2009 美国 13.10 ①状态分析：98个数据+4个时钟；②定时分析：采样速率4GHz(250ps) 实验、分析 85 高精度数字电压表 Agilent公司3458A 2009 美国 8.80 ①频率：1Hz～10MHz；②周期：100ns～1s；③精度：0.01%；④最高读数速率：81/2位时6读数/s IC调试 86 校验仪 Fluke公司5500A 2009 美国 18.20 ①直流功率：量程109mW至11kW；②交流功率：量程109mW至11kW；③相位：量程0至±179.99°；④频率：量程0.01Hz至2.0MHz 功能校验 87 数字示波器 Agilent公司DS08104A 2009 美国 23.80 ①等效时间采样率（最大）：250GSa/s；②存储器深度：2通道/全通道；1M/500K；③显示：8.4英寸彩色TFT-LCD，高分辨率触摸屏；④分辨率：XGA-1024，水平像素x768，垂直像素，256级亮度 IC调试 88 12吋探针台 SEMICS公司 OPUSII 2009 韩国 105.00 ①丝杠控制，快速XY直线马达；②高温测试；③智能相机系统；④6"，8"，12"晶圆测试；⑤1键式探卡更换 晶圆测试 北京工业大学研发实验服务基地开放重点实验室、工程中心：3个，开放的仪器设备：108台（套），开放的科技资源：4506.47万元。

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