内存:20M/通道 用于观察电压随时间变化的仪器 46 示波器 TEKTRONIX INC/TDS6604B 2006 美国 98.07 1.6GHz采集数据;2.以太网测试监控套件;3.USB2.0监控1.6GHz采集数据;2.以太网测试监控套件;3.USB2.0监控测试套件;4.差分探头 用于观察电压随时间变化的仪器 47 探针台 美国Micromanipulator公司/6150 2004 美国 70.06 显微镜的最大放大倍率为400倍,测试漏电流10^-9A.显微镜的最大放大倍数为400倍,测试漏电流最低可达到10^-9A 可对固体、薄膜及液体样品进行表面表征和性能研究 48 微波探针平台 Caseade公司/RF1 2004 美国 61.18 运用范围:6inch*6inch,隔离度大于100μohm搭配40GHz探针,接触电阻小于0.1ohm,插损小于0.75db,托盘平坦度:10μm 可对固体、薄膜及液体样品进行表面表征和性能研究 49 精密半导体参数 惠普公司/HP4156B 1999 美国 84.01 10pA-100mA/Res.1fA,2V-100V/Res.2μV三种SMU单元:HRSMU(高分辨率SMU)及MPSMU(率SMU):施加应力和测量:±100V或±100mA;最大输出功率:2W。
HPSMU(高功率SMU):施加应力和测量:±200V或±1A;最大输出功率:20W 可用于半导体芯片,器件的微电流,电容等参数的测试 50 铁电测试系统 RT公司/PrecionWnksfation 2001 美国 30.24 ±15/±100 适用于薄膜、厚膜和块状陶瓷及铁电器件的分析测试 51 93000 SOC测试系统 Agilent/93000 2003 美国 237.30 265pin,400MHz(240pin),660MHz(16pin)数模混合测试系统 可用于半导体芯片,器件的微电流,电容等参数的测试 52 半导体特性测量仪 Keithley Instrument/4200 2002 美国 58.78 电流测量精度20fA;分辨率100aA;电压测量精度124μV;电流测量精度20fA;分辨率100aA;电压测量精度124μV 可用于半导体芯片,器件的微电流,电容等参数的测试 53 半导体参数 Agilent/4156C 2002 美国 435.97 3μV/200V,1fA/1A 可用于半导体芯片,器件的微电流,电容等参数的测试 54 半导体参数 Agilent/4156C 2006 美国 56.29 100-240V/50160Hz/450VA MAX100-240V/50160Hz/450VA MAX 可用于半导体芯片,器件的微电流,电容等参数的测试 55 半导体参数测试仪 Agilent/B1500A 2008 美国 59.98 II-V,C-V测量,最小电流0.1fA 可用于半导体芯片,器件的微电流,电容等参数的测试 56 电容电压测试系统 吉时利公司/595 2000 美国 50.04 100K,1M下准静态C-V测试 可用于半导体芯片,器件的微电流,电容等参数的测试 57 任意波形发生器 泰克/AWG7122B 2009 美国 114.18 2个模拟通道,双道采样率:12G/s,最高垂直分辨率:10位 可发生任意波形,用于器件参数测量 58 矢量信号发生器 安捷伦/E4438C 2009 美国 39.20 频率范围:0-6GHz 可用于卫星通信、数字通信、微波中继、雷达、导航等 59 核脉冲信号放大鉴别系 ORTEC/583B 2009 美国 46.33 时间步长≤±75Ps,脉宽15-1000ns,延迟0-4.75us 可用于卫星通信、数字通信、微波中继、雷达、导航等 60 宽带频谱 爱德万/R3182 2005 日本 61.60 频率范围;9K-60GHz(加250KHz-1GHz,16比特量化,100兆采样率,32MB的存储空间,-145-10dBm的射频输出 测定信号频率 63 脉冲测试仪 美国吉时利仪器公司/Keifhley 4200-PIV-A 2008 美国 30.15 脉宽40ns~150ns,精度8位 测定信号频率 64 噪声系数 安捷伦公司/N8975 2004 美国 40.64 10MHz-26.5GHz 测量声音频率 65 光电误码测试系统 安立公司/40GBIT 2004 日本 506.32 1路25至43.5Gbit/s或4路0.1至12.5Gb/s 码率检测:误码率、误码数、误码间隔、无误码间隔、频率、帧数等 66 误码检测仪 Advantest Corporatio/D3186-3286 1999 日本 284.49 码形发生器:码率:150Mb/s-12Gb/s,码型:PRBS、2^N-1N=7.9.10.11.15.23.31;Word、Frame。
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好
现在需要探讨的是对美斗争的策略
配套组件和运用经验都不充分
一场战役