地铁哪里需要漏泄电缆_地铁漏泄电缆预算_漏泄同轴电缆和射频同轴电缆的区别是什么

筻光电线缆分会第八次专家组会议con函矿疑∥暨凳鲁聪量笑勰銎蓑—％② 对CST仿真中漏泄同轴电缆衰减因素的探讨 袁卫文’ 蓝燕锐 王强 中天日立射频电缆摘要：依据电磁场理论，利用CST电磁场仿真软件，从理论上对漏泄同轴电缆进行深入研究。本文首先对在CST 仿真中影响漏泄同轴电缆的纵向衰减的主要因素进行分析，然后采用CST中的时域求解器求解漏缆的s 参数，并由此计算漏泄电缆的纵向衰减。最后将仿真结果和实际测试结果进行了比较。关键词：漏泄同轴电缆；八字形槽；CST电磁场仿真软件；纵向衰减；S参数1、引 言 漏泄同轴电缆的技术要求中，纵向衰减是一项重要的指标。我国已经进入3G网络时代，3G网络的使用频率将达到2GHz以上，这就对漏泄同轴电缆的衰减性能提出了更高的要求。在产品的设计开发中确保漏缆的衰减指标是相当重要的。目前，漏泄同轴电缆的设计还主要以实验为基础，但依据电磁场理论从理论上对漏泄电缆进行深入研究是必要的。 CST是一种通用的电磁场仿真软件。该数值方法是将麦克斯韦积分方程离散化，以最终得到 Grid的完全离散化的麦克斯韦网格方程 Maxwell’s Equations 为基础的【11。

结合离散化的三个介质方程，用中心差分代替时间导数，生成显式方程。以下为无耗情况下的时间积分方程[I】： E斛¨2 E”¨2+AtMfl【cM?日”+r】 1 H“+1 日”一&∞肘172 2 采用数值方法求解这些方程，需要定义一个有限的计算区域，同时生成一套网格系统，将计算区域分割为许多小的网格单元。Yee把空间任一六面体网格上的电压E和磁通H的六个分量，如图1所示放置【2】。 ∞H1 Ez G工l。 Ey Gpl·崎 图1 Yee空间离散网格+博士 ．71． 。。高品质射频电缆技术研讨会 ⑨o 鳖光电线缆分会第八次专家组会议 Yee把电压E和磁通H在时间轴上相差半个步长。这两个量在时间轴上交替出现，如图2所 示的著名的蛙跳过程。在CST的时域求解器中，方程的计算变量为电压E和磁通H。f-伽+矽At 时刻的磁通是由上一步 ， 以At 的磁通和上半步 户伽+J倒At 的电压计算所得。 显式表示的时间积分过程的稳定性是有条件的，每个网格单元的计算都应该满足式 3 的稳 定性条件‘11。本式给出了时间步长 At 与网格步长 4工、dy，Az 之间的关系。 △f≤ 3 另外，对于辐射结构，边界总是开放的，电磁场占据无限大的空间，而计算机内存是有限的， 所以只能模拟有限空间。

即：计算网格将在某处被截断。这种开放空间是由开放边界模拟的。对 于高频问题，即使结构与物体靠得很近，采用PML技术 完美匹配层 也很合适而且很精确。 CST将自动选择最佳尺寸的边界仿真盒子‘11。 ———●一-————————●—————————●—————————●——啼t En-1尼 Hn E叶1彪H叶1 图2Yee电压E和磁通H的蛙跳过程 本文首先对在CST仿真中影响漏泄同轴电缆的纵向衰减的主要因素进行分析，然后采用CST 中的时域求解器求解漏缆的S参数，并由此计算漏泄电缆的纵向衰减。最后将仿真结果和实际测、试结果进行了比较。 2、在0ST仿真中影响漏泄同轴电缆衰减的主要因素 对于漏泄同轴电缆，导致传输损耗有3个因素：导体损耗、介质损耗和辐射损耗【31。图3所 示为某八字槽漏缆的纵向衰减测试图形。衰减曲线出现“波纹”，这种“波纹”可能导致个别频率 点上衰减不合格。 ．72． 暨l兽霖耀量茺赛禁銎氧黠鳓 国3某n宇憎鬲墁的姒向衰减测试围Ⅳ 导体损耗取决十导体的阻抗和尺寸。对十『d结构类型的电缆，损耗随着直径的增加而减小。因此，欲使电缆损耗减小，意味着可以靠坤 加电缆的线径尺q来达到，粗电缆的导体尺寸较大，显然对传输损耗的影响就小。

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