测评:[教学研究] U盘坏块，扩展，读写速度检测软件h2testw图形教程

U盘坏块，扩展，读写速度检测软件h2testw图形教程！ U盘坏块，扩展，读写速度检测软件h2t est w图形教程U盘坏块，扩展，读写速度检测软件h2t est w图形教程！ U盘，SSD，各种存储卡等均使用闪存半导体芯片作为存储介质。目前，大多数半导体存储设备都使用MLC闪存芯片。相对而言，坏块更可能导致读写错误。导致重要数据损坏或设备异常工作。 H2st est U盘，SSD，各种存储卡等均使用Flash半导体芯片作为存储介质。目前，大多数半导体存储设备都使用MLC Flash芯片，这种芯片相对更容易出现坏块并引起读写错误。 ，导致重要数据损坏或设备异常运行。 h2testw是德国人在Windows下编写的免费Flash坏块检测软件。它可以检测当前所有半导体存储设备的坏块。该软件将最大大小为1G的单个文件写入所选目录并进行读取。坏块的准确性由验证方法确定。同时，该软件还可以测试存储设备的实际读写速度。与ATTO DISKBENCH HDTACH不同，h2testw测试存储设备的实际读写速度。本文详细介绍了如何使用h2testw。

打开h2testw，界面如下：由于该程序是由德语编写的，因此默认界面语言为德语。如果您不熟悉德语（应该是大多数），请选择英语界面，如上所示。然后单击“选择目标”按钮以选择要写入测试数据的目录：您可以选择将测试数据写入测试存储设备的任何目录，h2testw会将单个最大为1G的测试文件写入测试磁盘。 ，如果剩余空间不足1G，它将自动写入小于1G的文件，直到整个磁盘被填满。由于测试不会破坏原始数据，因此如果磁盘上还有其他数据，则h2testw会弹出提示，告诉您只能测试整个磁盘的空间：同时，还会显示测试结果窗口存储设备的全部容量和测试分区。可测试的容量：当然，如果仅测试一部分，则将是不准确的，因此建议删除原始磁盘上的所有数据（最好进行格式化），然后选择将要测试的数据写入其中根目录。 ，按OK，然后返回主界面：如果没有在磁盘上写入测试数据（第一次测试出现上面显示的界面），请选择所有可用空间以测试整个剩余空间，仅在下面显示MByte。您在两者之间输入数据，仅测试您指定的容量。由于这是第一个测试，因此h2test将自动生成并写入测试文件，因此只能单击“写入验证”按钮。如果选中了以下无休止的验证，则将执行循环验证。

如果已将测试数据写入所选目录，则将出现如下所示的界面：由于存在测试数据，因此只需要验证即可。当然，您可以删除“我的电脑”中的现有测试数据以进行重写。单击“写入验证”按钮进入测试界面：测试的前半部分是写入测试文件并测试数据写入速度。由于最大写入量为1G，因此测试是连续的数据写入速度，然后读取下半部分。输出先前写入的数据并进行验证，然后计算数据读取速度直到结束：结束后，测试结果将为显示在测试窗口中。如果测试失败，它将与测试同步显示。背景将变为浅红色，表明已测试了坏块：以上测试表明总共172,576个数据扇区有错误。由于h2testw可以测试所有数据存储扇区，因此测试结果是准确而全面的。同时，该软件可以测试存储设备的实际读写速度，因此可以为我们的使用提供准确的参考。 U盘坏块，扩展，读写速度检测软件h2test w图形教程U盘坏块，扩展，读写速度检测软件h2test w图形教程！ U盘，SSD和各种存储卡均使用闪存半导体芯片作为存储介质。目前，大多数半导体存储设备都使用MLC Flash芯片，这种芯片相对更容易出现坏块并引起读写错误。结果，重要数据可能会损坏或设备可能无法正常工作。 h2test U盘，SSD和各种存储卡均使用闪存半导体芯片作为存储介质。目前，大多数半导体存储设备都使用MLC Flash芯片，这种芯片相对更容易出现坏块并引起读写错误。结果，重要数据可能会损坏或设备可能无法正常工作。 h2t est

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