
拼命加载...
最近有关SSD固态驱动器数据可靠性的文章非常受欢迎. 据说,希捷的工程师阿尔文·考克斯(Alvin Cox)发现,固态硬盘数据在没有电源的情况下会随着时间的流逝而丢失,并且温度对于SSD来说是可靠的. 它也有很大的影响. 最后,得出的结论是,大多数SSD的可靠性仅为2年. 建议不要将重要数据保存在SSD中. 权威专家+可怕的后果+危言耸听的写作-这仅仅是完美的QQ空间和当前的微信圈模板Nima,什么时候还传播到DIY圈?


尽管现在每个人都知道SSD的好处,但是SSD不能解决的问题是数据可靠性. 先天性的P / E操作不仅可以提供SSD的超强性能,而且还带来了隐患-数据寿命有限. 升级到TLC将缩短使用寿命. 升级到更高级的流程也将导致使用寿命缩短. 不知道真相的人将不可避免地不得不怀疑SSD的寿命. 这本来是很合理的,但是前面已经提到了谣言: 如果不加电,SSD会导致数据丢失?
成功的谣言永远不会是100%错误的. 聪明的骗子永远是三分之三的真假七年的假. 以前的谣言也是如此-如果未给SSD供电,则数据将丢失并且温度会影响SSD的寿命. 有影响力的陈述是正确的固态硬盘坏的原因,但将影响放大到这样的程度是错误的. Anandtech网站现在有一篇引人注目的文章.
首先,上一份报告的作者艾尔文·考克斯(Alvin Cox)的身份并非来自希捷,而是来自JEDEC组织. Alvin Cox是JC-64.8标准组(即SSD委员会)的主席,但有一点是对的-Alvin Cox确实是Seagate的高级工程师,但与他的报告无关. JEDEC组织本身是制造商的联合组织. 来自不同制造商的会员是正常的. 当前的JC-64.8标准团队由HGST的Frank Chu领导.

在回答之前有关SSD数据保留的问题之前,让我们首先了解供应商如何确定SSD的可靠性. 首先,SSD必须保证一定的容量,因此不可能在OP空间等中使用许多块,这会减少用户的可用容量(SSD的此功能可以在我们的上一篇文章中进行解释). 其次,SSD必须满足指定的UBER和FFR指标. 下表说明了UBER和FFR的含义. 前者是SSD读取错误中字节的比例,FFR是功能失败的比例,消费级和企业级SSD对这两个指标有不同的要求. 消费级SSD的UBER为10-15,即1/1015字节读取失败率,FFR不能高于3%.
最后一点是在未给SSD供电时达到JEDEC规定的数据保留率. 消费级固态硬盘在30°C时为一年,而企业级在40°C时为三个月.

以上指标均以TBW表示,即SSD徽标中写入的数据量的含义,例如100TB数据的写入寿命,这意味着该指标在写入100TB数据时也可以使用. 以上要求.

此表格来自英特尔
温度确实会影响SSD的数据存储. 从消费者给出的固态硬盘关机温度和英特尔提供的活动温度的存储时间来看,固态硬盘数据在40°C的活跃温度和30°C的关机温度下的存储时间为52周,即一年. 关闭温度越高,SSD数据存储时间越短. 当活动温度为25-30°C但关机温度为55°C时,SSD仅保存数据一周. 这是谣言中的先前数据“数据保留时间”来源仅几天之遥. 这种情况确实会发生,但根本不具有代表性.
实际上,关闭温度几乎不可能达到55°C(PS: 如果出现这种情况固态硬盘坏的原因,我想我应该首先关心个人安全而不是数据安全),因为大多数SSD仍处于室温下. 使用时,温度通常在30°C以内. 活动期间的温度通常在40°C左右,并且系统中的其他组件也会产生热量.

最后,从技术上解释数据存储问题. 半导体的电导率与温度密切相关,这对NAND闪存而言不是好消息,因为在电源关闭后电子将不再移动,否则它将改变单元单元的电荷. 换句话说,随着环境温度的升高,电子将更快地从浮栅中逸出,最终将导致电池的电压状态发生变化,从而导致数据无法读取. (也就是说,SSD无法再保存数据)
处于活动状态的另一件事. 较高的温度将使基于硅的电导率更高,在P / E操作期间的电流较高,并且隧道氧化物层的压力较小,这将提高电池的可靠性,因为SSD的可靠性主要受以下因素的限制隧道氧化物层在浮栅中保留电子的能力. (NAND的读写原理也可以参考我们以前的文章)
简而言之,在典型的SSD使用环境中,我们完全不需要担心SSD数据的保留. 上表仅通过了可靠性测试,新的SSD数据保留率将更高,通常为MLC NAND闪存10年. 如果您购买SSD并将其闲置,则直接淘汰它的可能性实际上要大于SSD无法保留数据的可能性.
本文来自电脑杂谈,转载请注明本文网址:
https://www.pc-fly.com/a/jisuanjixue/article-210827-1.html
就在南海设几个反舰导弹阵地
演员杨洋加油