
哈尔滨工业大学硕论文72 21215 04Expf是单电子温度单位ev 7eT是平均电子温度. 注意,该单位不同于上述Te. 通常,在等离子体中,我们使用Te作为能量. 概念实验和理论研究证明,霍尔推进器通道中的电子温度分布基本上是非麦克斯韦性的. 这是因为在强电磁场和电子与壁之间的碰撞占优势的条件下,电子温度分布高于80的主体呈线性Bugrova分布. 在这里,我们忽略了电子温度的中间能和高能部分的电子组件,因为它们就其产生机理而言麦克斯韦能量分布,对电子碰撞产生离子的过程影响很小. 首先,它们的比例相对较小,通常不超过20. 然后它们的存在主要取决于与壁表面的弹性碰撞和非弹性碰撞,并且与通道中的主体碰撞过程关系不大. 因此,我们可以忽略这两个比重对通道中产生的离子的贡献. 还有其他一些电子温度分布函数. 例如,电感耦合等离子体通常可以很好地近似为简单的麦克斯韦分布电容耦合等离子体. 如果使用三参数bi Maxwellian分布函数,则还有Druyvestey分布函数. 60电子温度分布函数会影响电子激发速率. 将电子温度分布函数重用模型的激发速率定义与参考文献57中的电子碰撞激发截面数据相结合,以计算与基态原子碰撞的电子的激发速率和电离速率.

如图19,图521和图5 22所示,分别是使用Maxwell分布函数和Bugrova分布函数使用相同横截面的计算结果. 可以看出,当电子温度较低时,通过Bugrova分布计算出的激发速率高于Maxwell分布函数的计算结果,但是当电子温度升高时,Maxwell分布函数的结果比Bugrova增长得更快. 分配功能. 在高电子温度下,两者之间的差异逐渐减小. 哈尔滨工业大学硕论文73 20在不同电子温度分布下,从基态到2p1 2p5能级的激发速率分布相应图中相同颜色的实线和虚线右上角的实线图片的是Bugrova分布的计算结果. 虚线是Maxwell分布计算的结果. 21在不同的电子温度分布下,从基态到2p6和2p10能级的激发速率分布. 图中相同颜色的实线和虚线对应于图片右上角的实线. 虚线是麦克斯韦分布计算的结果. 与Maxwell分布相比,Bugrova分布在低电子温度下分配了更多的概率. 哈尔滨工业大学硕论文74从图中可以看出,两者之间的差异较大,约为15ev,我们通道中的电子温度主要分布在此范围内. 如果使用双光谱法,两条激发速率曲线的比值和两条光谱线的强度测量数据的比值与电子温度相对应,因此计算出的电子温度结果将有很大差异.

因此,正确的电子温度分布函数(尤其是在低电子温度范围内)和正确的横截面数据将对光谱诊断结果产生重要影响. 不同电子温度分布下22 Kr的基态电离速率分布. 实线是Bugrova分布的计算结果. 虚线是麦克斯韦分布的计算结果. 本章小结本章主要介绍频谱测量中几个主要测量不确定性的来源和影响. 这是多光谱测量方法的一部分,可以为误差估计和测量方法的改进方向提供基础. 首先,光学系统测量不确定度的主要来源是光传输系统的光纤在实验条件下的变化,而软件系统光谱仪CCD光谱仪软件本身引起的误差则反映在光学系统的不确定度中. 校准过程. 随着时间的推移测量值的不确定性. 实验结果表明,在可见光区域使用更强的标准,哈尔滨工业大学硕论文75,并且光源的校准尽可能接近实际测得的光路条件,将有效减少校准误差. 软件集成参数设置仅需满足最大饱和度原则‖测量结果不会有太大变化. 积分时间设置基本上不会影响光强度. 随着光强度的逐渐增加,所测量的光强度的测量时间不确定性具有迅速减小的趋势. 确定度与光强度的关系曲线. 其次,通道中电子温度分布函数的估计也将对计算结果产生重大影响.

当电子温度低时,Maxwell分布与Bugrova分布之间的差异主要反映在Bugrova分布中低温电子的比例较低,这更符合实际情况. 再次,亚稳原子的辐射阱效应也将引起光谱线强度的变化. 通过实验测量了该信道在信道中的影响,给出了消除光辐射阱误差的计算方法. 随着原子密度沿着通道向外逐渐降低,原子对光子的重吸收在光子总量中的比例逐渐降低. 在计算中麦克斯韦能量分布,只要我们使用通道横截面数据主动发送总横截面数据,就可以消除光辐射阱效应的误差. 除了上面讨论的主要不确定性外,通道中离子和原子对发光原子的贡献. 理论横截面误差假设上层寿命足够短. 诸如短期寿命之类的条件会带来计算错误. 以后的方法改进可以一一解决. 哈尔滨工业大学硕论文76本文从基本惰性气体内部能级和实验研究的角度讨论了建立光谱辐射强度模型的过程的理论解释. 最后分析了多谱线诊断方法. 主要内容和总结如下: 基于通道内的各种碰撞过程,提出了霍尔推进器通道内的光谱辐射模型. 惰性气体原子内部能级的耦合过程由jK耦合形成的耦合过程确定. 电子碰撞激发截面的变化,实验测量的谱线强度值和分支系数的变化反映了能级性质的各种量子数.

通过分析通道中的各种碰撞过程和碰撞截面来建立碰撞辐射模型. 原子的能级激发过程主要是电子与基态和亚稳态原子的碰撞. 灭磁主要是自发发射过程. 需要根据实际通道中的压力选择电子碰撞截面. 2.分析光辐射陷阱效应在通道中的影响,并给出消除该效应的方法. 通过分析光子的平均自由程,不能忽略通道中长寿命原子所引起的光辐射陷阱效应. 在等离子体中,由于原子团的存在,原子自发发射的光子将被同一原子的比能级吸收. 这使等离子体的整体性能改变了激发态能级的原子数量. 给出了消除光辐射的俘获效应的方法. 给出了在通道压力下的横截面数据和将线强度归因于相同较高水平的人口数. 一方面,由于低能原子吸收了光子,电子碰撞原子的总截面数据随等离子压力而变化. 另一方面,较高能级的向下过渡的总支化系数也改变. 3.提出多线诊断方法. 将计算结果与法拉第探针进行比较. 给出多线诊断方法的具体过程. 首先建立能级总体平衡方程,并通过分类求解. 首先使用这些方程式计算电子温度原子密度乘以电子密度1s5亚稳态密度而不是基态密度,然后使用这些方程式使用这些参数计算出1s3亚稳态密度而不是基态密度,以计算沿通道根据等离子传输方程计算速率,以获取霍尔推力器的工作因子利用率. 最后,利用法拉第探针工作因子利用的测量结果来校正光谱线法.
4. 在频谱计算方法中分析不确定性的来源. 评估实验系统测量的不确定性. 首先,使用标准光源对光谱仪的测量系统进行校准,然后进行实验研究,发元王晓刚鞘结构强电负性等离子体科学技术2005 26492652 38段平刘金源王小笑39陈茂林等. PIC MCC霍尔效应推进器羽流的固体火箭技术2009 32 638643 40稳态等离子推进器羽流场的数值模拟北京航空航天大学学报2005 31 10091013 41 100W微波等离子推进器固体火箭固态源技术研究2007 30 9497
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首先是判明其意图和性质
一定能达到德艺双馨的境界