图6 SSC扩频时钟的测试 F2和F3的参数设置:
图7 F2对F1的频率进行追踪设置
图8 F3对F2进行抽点和滤波设置(滤波之前先对波形进行抽点运算,可提高速度和更为平滑的进行滤波)
图9 F5对F1进行SSCTrack的设置
由于SSC波形的频率比较低,约为30KHZ(周期约为33.3us),因此对采集多大的数据量进行分析有一定的要求,如测试中一屏幕采集5个SSC波形周期的话,则总的采集时间长度约为200us,如果设置示波器采样率为20GS/S,那么则需要采集至少4M(200us/50ps)的数据量。 上述提到的Track功能是指某一参数(如本例中的频率)的变化范围表示在纵轴上,由于这一参数是随着时间的变化而变化的,因此通过Track图可以观察到参数随着时间的变化情况,具体可参见力科相关的介绍文档。如下图10所示对时钟周期的追踪:
图10 时钟周期参数的追踪(Track)图 四、带有SSC(扩频时钟)的串行数据的眼图测量 SSC的使用会影响到串行数据眼图的测量效果,因此在进行信号眼图测量验证时需要选择合适的锁相环。扩频时钟如使用一阶的FC Golden PLL测量带有SSC的SATA眼图结果如图11左图所示,眼图触碰到了信号模板,这是由于一阶PLL不能跟踪SSC带来的频率变化。采用二阶PLL测量出的眼图结果如图11右图所示,这使得在有SSC时能测量出有意义的眼图结果。 有些芯片不能关闭SSC功能,那么这时候采用二阶PLL的方式仍然能判断出信号的质量。所以在有SSC时要注意串行数据眼图的PLL设置。
图11 带SSC的SATA信号带分别使用一阶和二阶PLL设置时的眼图测试
五、小结
本文简要介绍了SSC扩频时钟的基本概念以及如何使用力科示波器进行信号的扩频时钟的测试。由于当今电路系统中的信号速率越来越高,因此EMI问题也越来越普遍,因此在最新的一些高速串行数据规范中,如USB3.0、PCIE3.0等都特别强调了SSC的测试。扩频时钟力科示波器中的余辉直方图(Phistogram)和参数追踪(track)以及SSCTrack等函数功能可以很方便的帮助用户观察和分析信号的SSC。
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