测试仪 in circuit tester 简称ICT
一种 式的电路板静态测试设备,业内称为ICT/ATE/ATS测试!
ICT(In-Circuit Test System),中文惯用名为测试仪(本手册特指组装电路板 测试仪),主要用于组装电路板(PCBA)的测试。这里的“”是“In-Circuit”的直译,主要指电子元器件路上(或者说在电路上)。测试是一种不断开电路,不拆下元器件管脚的测试技术,“”反映了ICT重在通过对路上的元器件或开短路状态的测试来检测电路板的组装问题。
主要测试电路板的开短路、电阻、电容、电感、二极管、三极管、电晶体、IC等无件!
早期,业内将ATE设备也归在ICT这一类别中,但因ATE测试相
基本上所在的大型电路生产商都要用到ICT测试,象ASUS、DELL、IBM、INTEL、BENQ、MSI、HP等!
优点
1、缩
短测试时间:一般组装电路板如约300个零件ICT的大约是3-4秒钟。 对复杂,而且还包含了上电后的功能测试,象TTL、OPAMP、Frequency、TREE、BSCAN、MEMORY等,所以将ATE独立为另一个类别了!
2、测试结果的一致性:ICT的质量设定功能,能够透过电脑控制,严格控制质量。
3、容易检修出不良的产品:ICT有多种测试技术,高度的可靠性,检测不良品种、且准确。
4、测试员及技术员水平需求降低:只要普通操作员,即可操作与维修。
5、减省库存、备频、维修库存压力、大大提高生产成品率。
6、大大提升品质。减少产品的不良率,提高企 业形象。
原理
1 慨述 1.1 定义 ICT测试仪,ICT,In-Circuit Test,是通过对元器件的电性能及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试手段。它主要检查的单个元器件以及各电路网络的开、短路情况,具有操作简单、快捷迅速、故障定位准确等特点。 飞针ICT基本只进行静态的测试,优点是不需制作夹具,程序开发时间短。针床式ICT可进行模拟器件功能和数字器件逻辑功能测试,故障复盖率高,但对每种单板需制作专用的针床夹具,夹具制作和程序开发周期长。1.2 ICT的范围及特点检查制成板上元器件的电气性能和电路网络的连接情况。能够定量地对电阻、电容、电感、晶振等器件进行测量,对二极管、三极管、光藕、变压器、继电器、运算放大器、电源模块等进行功能测试,对中小规模的集成电路进行功能测试,如所有74系列、Memory 类、常用驱动类、交换类等IC。ict测试仪它通过直接对器件电气性能的测试来发现制造工艺的缺陷和元器件的不良。元件类可检查出元件值的超差、失效或损坏,Memory类的程序错误等。对工艺类可发现如焊锡短路,元件插错、插反、漏装,管脚翘起、虚焊,PCB短路、断线等故障。测试的故障直接定位在具体的元件、器件管脚、网络点上,故障定位准确。
对故障的维修不需较多知识。采用程序控制的自动化测试,操作简单,测试快捷迅速,单板的测试时间一般在几秒至几十秒。1。3意义测试通常是生产中第一道测试工序,能及时反应生产制造状况,利于工艺改进和提升。ICT测试仪测试过的故障板,因故障定位准,维修方便,可大幅提高生产效率和减少维修成本。因其测试项目具体,是现代化大生产品质保证的重要测试手段之一。 ICT测试理论做一些简单介绍1基本测试方法1.1模拟器件测试利用运算放大器进行测试。由“A”点“虚地”的概念有: ∵Ix = Iref∴Rx = Vs/ V0*RrefVs、Rref分别为激励信号源、仪器计算电阻。测量出V0,则Rx可求出。 若待测Rx为电容、电感,则Vs交流信号源,Rx为阻抗形式,同样可求出C或L。 1.2 隔离(Guarding)上面的测试方法是针对独立的器件,而实际电路上器件相互连接、相互影响,使Ix笽ref,测试时必须加以隔离(Guarding)。隔离是测试的基本技术。 在上电路中,因R1、R2的连接分流,使Ix笽ref ,Rx = Vs/ V0*Rref等式不成立。测试时,只要使G与F点同电位,R2中无电流流过,仍然有Ix=Iref,Rx的等式不变。
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