系统测试的目的 光谱检测古代书真伪鉴识(2)

1980年代中后期紫砂一厂天凤壶

1980年代中后期紫砂一厂天凤壶光谱检测(添加氧化锰且有微量钡质线突出)

1990年代中期紫砂一厂线圆壶

1980年代中期紫砂一厂线圆壶光谱检测(添加氧化锰且有较微量钡质线突出)

紫砂原矿

紫砂原矿底槽清及紫泥光谱检测(无锰且无钡质线突出)

紫砂原矿底槽清及紫泥光谱检测(无锰且无钡质线突出)

仿1970年代紫砂一厂水平壶

仿1970年代紫砂一厂水平壶光谱检测(钡质线明显突起)

现代紫砂器

现代紫砂器光谱检测(无锰但有微量钡质线突起)

仿清代紫砂器

仿清代紫砂器光谱检测(无锰但有钡质线突起)

1980年代初期各式添加氧化物之紫砂小品

现代光谱分析为透过激发元素外层电子，由探测器捕捉跃迁的电子能量并加以分析元素，有系统性、低成本、高效率、极快速、无破坏性、精准度极高，形成数据化的客观科学性鉴识方式，并依据大，进行精确鉴识比对分析。

现代光谱技术是透过激发元素外层电子，并由探测器捕捉跃迁的电子能量并加以分析元素，有系统性、低成本的、高效率的、极快速的、无破坏性且精准度极高，形成数据化的客观科学性鉴识方式，并可依据大，进行精准鉴识比对。系统测试的目的应星开物科技运用一种半导体有害元素测试设备以及方法，以科学仪器以及科学的方法，寻找出一种快速鉴识物质的简易比对的绝对科学的方式，可替代或辅助现有大多物质的各种鉴定方式。该方式利用半导体有害元素之无铅分析(Pb-Free)以及无卤素(Halogen-Free)分析两种基本模式，并藉由半导体物质材料分析(MSDS)及8D (8 Eight-Discipline)失效分析手段，藉由物质材料分析及样品比对，透过排除法及确定法，以无破坏性、极低设备成本、极快速、极高准确性的方式对受测对象进行判别。

器物年代跨越三百余年，包括明清时期到现代作品以及紫砂原矿，透过大量归类比对以及交叉分析，得到许多重大发现以及结果，更进一步揭开了紫砂行业神秘的面纱，为有史以来首次以现代光谱技术对紫砂器进行全面元素分析的先驱者

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