JC-3165大型混合信号集成电路测试系统

JC-3165大型数模混合信号集成电路测试系统是中国生产的最先进的数模混合电路测试系统. 其模拟电路测试性能和可测器件范围已达到当前的国际高水平. 它可以测试多达24位AD和高速AD，DA，高速运算放大器，PWM，双端口RAM，单芯片，CPU等芯片. 3165（及其纯数字模型-3162）当前是一种国产测试系统，可以在IC生产测试中以超过5MHz的测试（图形）速率测试数字IC芯片. 该测试系统可以对通过TTL，ECL，MOS工艺制造的SSI，MSI，LSI和VLSI器件进行快速混合信号集成电路，准确和全面的全参数测量（直流参数混合信号集成电路，交流参数动态功能）和分析测试. 该测试系统是综合考虑国内测试要求而开发的高端数模混合集成电路测试系统. 它的高稳定性，可靠性，可维护性以及易学易用的特性使其特别适合于国内设备制造商和各种电子机械制造商的质检部门进行生产测试（包括中试和成品测试）和工厂检查，质量评估和可靠性分析与测试. 3165大型混合信号集成电路测试系统根据设备的特性提供标准的测量模式. WindowsXP下运行的表单菜单（数字IC）环境以及易于学习的C（C ++）语言和其他编程环境可以满足不同级别的用户. 诸如在WinXP下运行的表单填充菜单之类的编程环境既简单又易于学习. 基于C（C ++）语言高级测试语言的编程平台具有灵活性，并且允许测试人员快速开发各种设备测试程序并执行设备测试. 完善的系统自检和校准工具可以通过GPIB界面自动校准系统，例如高精度数字电压表和其他通用测量仪器，并且可以跟踪国家二级测量标准. 有关产品的详细信息，请咨询: 北京泰素科技电话: 15084122580何小燕QQ 2046099386

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