固态硬盘写入放大机制是如何影响固态寿命的呢？

随着TLC闪存颗粒逐渐占领市场的制高点，固态驱动器的使用寿命再次被推上了舞台，有争议的是，就像SLC持续疲软和MLC成为主流一样。可以说，“看到他登上一座高楼，看到他在宴会上宴请，看到他的建筑物倒塌了”，一切都是这样，任何取代旧事物的新事物都会经历从质疑，重复到接受的过程。

当然，今天我们不再讨论更好的SLC / MLC / TLC问题，但是现在我们已经讨论了固态寿命问题，除了闪存的确定性作用之外颗粒，实际上是主要控制因素介质中写放大机制的存在也是影响固态寿命的关键因素。

写放大机制

那么，什么是写放大机制？写放大如何影响固态寿命？接下来，我将与大家讨论写放大。

写放大，英文名称为Write Amplification。该术语最初由英特尔和Silicon Systems（于2009年被Western Digital收购）于2008年左右提出并用于公开手稿。该术语实际上描述了目标写入值与固态驱动器的实际写入值之间的多重关系，它用阿拉伯数字表示。写放大值越小，固态寿命越长。

要完全了解写放大，我们需要了解SSD的读写机制。我们知道，固态硬盘的存储单元由闪存颗粒组成，无法实现物理数据覆盖。只能擦除然后写入，重复此过程。

因此，我们可以想象，在实际的读写过程中，不可避免地会在闪存颗粒上多次擦除和写入数据，尤其是在某些块被完全填充时。

这些多次操作，即增加的写入数与原始写入数之比，即所谓的写入放大。因此，高写入放大值将消耗固态驱动器的寿命。 （SSD闪存颗粒具有额定的P / E值，即最大读写次数，高写入放大率，快速P / E丢失和低寿命。）

写放大和影响因素的详细说明

例如，在最坏的情况下，如果我要写入4KB数据，并且目标块中没有可用的页面区域，则需要收集GC。

接下来，让我们分析此过程中写放大的值。首先，主机读取目标块512KB，然后GC回收并擦除512KB，然后重写512KB空白区域以存储原始写入的4KB数据。也就是说，原始写入数据仅为4KB，实际写入数据为512KB，写入放大值为512/4 = 128倍。

通过上面的示例演示，我们应该对写放大的概念和写放大的危害有一个一般的了解。那么，哪些因素会影响写放大？如上例所示，GC恢复机制需要完全擦除整个块，从而提高整个数据的写入放大率。

磨损均衡（WL），该机制主要是通过平衡所有闪存颗粒来延长整体使用寿命，但仍会提高整体写入放大率。 ATA命令的Trim机制可以避免不必要的GC恢复时间，从而减少写放大。

除了上述可能影响写放大值的主控制机制外，SSD内的OP保留空间对写放大也有很大影响。 op的保留空间越大，可用的空白闪存块就越多。即使在最坏的情况下（即所有闪存块都已满），主机也不需要执行GC恢复，这自然会大大减少冗余的读写操作，从而大大降低了写入放大率。

谈论了很多之后，一些朋友肯定会说：“知道写放大有什么用？我们无法防止写放大。”

实际上，对于我们的普通用户，我们可以及时修改OP保留空间并及时清除固态驱动器中的无用数据，以留出更多的空白空间，以减少冗余的擦除和写入操作。从而降低了固态写入放大值，提高了固态寿命。

更重要的是，写放大是衡量主控件性能的最关键因素。购买固态驱动器时，我们可以根据写入放大值测量主控制性能，以推断出固态驱动器的整体性能。

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